涂层测厚仪

涂层测厚仪DFT	PosiTector 6000系列涂镀层测厚仪
PosiTector 100超声波涂层测厚仪	PosiTector 200超声波涂层测厚仪

美国DeFelsko公司PosiTestDFT涂层测厚仪特点:大屏幕液晶显示；涂层测厚仪快速、连续测量；涂层测厚仪自动开机，自动关机；涂层测厚仪零点校准功能；防磨红宝石探头；测量声音指示；涂层测厚仪V型槽可用于有弧度的部位；涂层测厚仪公英制转换。

涂层测厚仪是一种超小型的测厚仪，它能快速、无损伤、精颏地进行非磁性金属基体上非导电覆层厚度的测量。可广泛用于制造业、金属加工业、商检等检测领域。由于该涂层测厚仪体积小，测头与仪器一体化，特别适用于工程现场测量。
主要功能：
涂层测厚仪测量导磁物体上的非导磁涂层和非磁性金属基体上的非导电覆盖层的厚度，自动关机功
能。 涂层测厚仪广泛应用于喷涂电镀、涂料涂装、汽车、石化管道、造船、电器、防腐等行业中的表面涂层及各种薄膜厚度的测量。
涂层测厚仪是高科技电子技术和软件的最佳组合，多功能、耐用的设计，专为适应最恶劣的工作环境而制造，典型应用于表面处理工业。涂层测厚仪以经济的价格为您提供对涂镀层厚度的准确、高效的监控。

本涂层测厚仪采用了磁性和涡流两种测厚方法，可无损地测量磁性金属基体(如钢、铁、合金和硬磁性钢等)上非磁性覆盖层的厚度(如铝、铬、铜、珐琅、橡胶、油漆等)及非磁性金属基体(如铜、铝、锌、锡等)上非导电覆盖层的厚度(如:珐琅、橡胶、油漆、塑料等)。
本涂层测厚仪能广泛地应用在制造业、金属加工业、化工业、商检等检测领域。是材料保护专业必备的仪器。

TT220/230涂层测厚仪

涂层测厚仪影值的因素
1．影响因素的有关说明
a) 基体金属磁性质
磁性法测厚受基体金属磁性变化的影响（在实际应用中，低碳钢磁性的变化可以认为是轻微的），为了避免热处理和冷加工因素的影响，应使用与试件基体金属具有相同性质的标准片对仪器进行校准；亦可用待涂覆试件进行校准。
b) 基体金属电性质
基体金属的电导率对测量有影响，而基体金属的电导率与其材料成分及热处理方法有关。使用与试件基体金属具有相同性质的标准片对仪器进行校准。
c) 基体金属厚度
每一种仪器都有一个基体金属的临界厚度。大于这个厚度，测量就不受基体金属厚度的影响。本仪器的临界厚度值见附表1。
d) 边缘效应
本仪器对试件表面形状的陡变敏感。因此在靠近试件边缘或内转角处进行测量是不可靠的。
e) 曲率
试件的曲率对测量有影响。这种影响总是随着曲率半径的减少明显地增大。因此，在弯曲试件的表面上测量是不可靠的。
f) 试件的变形
测头会使软覆盖层试件变形，因此在这些试件上测出可靠的数据。
g) 表面粗糙度
基体金属和覆盖层的表面粗糙程度对测量有影响。粗糙程度增大，影响增大。粗糙表面会引起系统误差和偶然误差，每次测量时，在不同位置上应增加测量的次数，以克服这种偶然误差。如果基体金属粗糙，还必须在未涂覆的粗糙度相类似的基体金属试件上取几个位置校对仪器的零点；或用对基体金属没有腐蚀的溶液溶解除去覆盖层后，再校对仪器的零点。
g) 磁场
周围各种电气设备所产生的强磁场，会严重地干扰磁性法测厚工作。
h) 附着物质
本仪器对那些妨碍测头与覆盖层表面紧密接触的附着物质敏感，因此，必须清除附着物质，以保证仪器测头和被测试件表面直接接触。
i) 测头压力
测头置于试件上所施加的压力大小会影响测量的读数，因此，要保持压力恒定。
j) 测头的取向
测头的放置方式对测量有影响。在测量中，应当使测头与试样表面保持垂直。
2．使用仪器时应当遵守的规定
a) 基体金属特性
对于磁性方法，标准片的基体金属的磁性和表面粗糙度，应当与试件基体金属的磁性和表面粗糙度相似。
对于涡流方法，标准片基体金属的电性质，应当与试件基体金属的电性质相似。
b) 基体金属厚度
涂层测厚仪检查基体金属厚度是否超过临界厚度，如果没有，可采用3.3)中的某种方法进行校准。